编者按：光照和高温诱导衰减会极大地影响你的太阳能组件和电站发电性能。LeTID衰减机制不同，它通常发生在光照和高温(> 50°C)两个条件同时满足的情况下，并且LeTID对于PERC组件的发电量影响很大。

LeTID (Lightand elevated Temperature Induced Degradation)，业界称为“光照和高温诱导衰减”，或者叫“光热衰减”。名称有些拗口，但是值得大家花些时间去了解它，因为它会极大地影响你的太阳能组件和电站发电性能。

光伏行业对LID(Light Induced Degradation)，也就是“光致衰减”现象已经很了解。通常情况下，只要光伏组件暴露在阳光下就会发生LID(光致衰减)，在短时间(几天或几周)内就能达到饱和的衰减。行业对于LID(光致衰减)的研究也已经非常充分，产生机制也获得一致认可，主要是硅材料内的硼氧缺陷。因为晶体生长方法的差异，单晶硅材料内间隙氧含量远高于多晶，从而LID衰减也远高于多晶。两到三年前PERC技术的推广还受限于LID(光致衰减)，随着抗LID衰减技术的突破使LID得到比较有效的控制，加之设备的广泛应用，PERC技术得以大规模导入。

然而LeTID衰减机制不同，它通常发生在光照和高温(> 50°C)两个条件同时满足的情况下，并且LeTID对于PERC组件的发电量影响很大。PERC组件在实验室的测试条件和电站实际工作环境中都存在LeTID(光热衰减)现象。在组件工作温度超过50°C时，不论是单晶还是多晶PERC组件都会发生LeTID(光热衰减)，衰减率最高可达10%。

原标题：科普 | PERC组件的LeTID问题